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Hogar > > > Microscopio > Nanofirst - 3600b Atomic Force Microscopy Integrated AFM

Nanofirst - 3600b Atomic Force Microscopy Integrated AFM

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MOQ: 1 Ordenador personal

Notas: Si tiene alguna pregunta, por favor póngase en contacto con nosotros.

Nanofirst - 3600b es un microscopio de fuerza atómica integrado (AFM) económico y eficiente.
Tiene las ventajas de un rendimiento estable, un funcionamiento conveniente y una fuerte practicidad, y puede realizar pruebas de alta resolución a nanoescala y subnanoescala.
Es especialmente adecuado para la enseñanza de la nanotecnología en la escuela secundaria y la Universidad. También es adecuado para la investigación científica, el análisis de nanomateriales y polvos, la medición electroquímica, la biofarmacéutica y las pruebas de campo industriales.
Contamos con más de 10 años de experiencia y acumulación en tecnología AFM, y podemos proporcionar apoyo técnico profesional y servicio post - venta a tiempo.

3600b

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Suzhou Howard Electronic Technology Co., Ltd.

Desde:

2015

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Descripción del producto

Principales índices técnicos de nanofirst - 3600b AFM

1. Modo de trabajo: el modo de escaneo básico es el modo de contacto y el modo dinámico, que puede ampliar la fase, la fricción, la fuerza magnética y el modo de fuerza estática

2. Tamaño de la muestra: tamaño ≤ φ 30 mm, espesor ≤ 15 mm

3. Rango máximo de exploración XY: 10 um ~ 50 um

4. Resolución: resolución XY 0,2 nm, resolución Z 0,05 nm

5. Rango de movimiento del dispositivo móvil micron: 0 ~ 5 mm, escala mínima 10 um

6. Modo de muestreo: motor de corriente continua accionado por pulso, ancho de pulso 10 ± 2 ms

7. Amplificación CCD: amplificación óptica 0,6 ~ 5 veces, amplificación electrónica 20 veces

8. Control de escaneo XYZ: XY utiliza 18 bits D / A; Z utiliza D / A de 16 bits

9. Muestreo de datos: muestreo simultáneo múltiple A / D de 14 bits y doble A / D de 16 bits

10. Z feedback: DSP digital feedback, feedback Sampling rate 64.0khz

11. Puntos de muestreo de imágenes: 512 × 512

12. Rango de barrido de frecuencia sinusoidal: 20k ~ 1000khz

13. ángulo de escaneo: 0 ~ 360 grados, desplazamiento de escaneo arbitrario